產品資訊

光學式量測設備 高速量測雙折射偏光儀

面掃描式高速量測雙折射偏光儀

該模型提供了透明對象雙折射的簡單且快速的定量評估,作為完整的二維2D網格數據。 除標準型號外,還有更大的型號,其測量區域已擴大到A4和A3尺寸。
特性:
•操作簡單/高速測量
•多種顯示模式和分析功能
•即時顯示延遲和軸
•複雜應力的可視化和量化

規格:
測量範圍:0〜130nm
重複性:≦1.0nm
雙折射圖像分辨率:2056×2464
測量波長:520nm
尺寸:A5至A3(不同型號)
接口:GigE(攝影機信號)
電源:AC100〜240V(50 / 60Hz) /〜6.0A
隨附附件:筆記本,標準鏡頭,操作手冊