产品资讯

偏光量测 携带自动量测型

普通型

非破坏式量测方式
分辨率: 可以在1.0*1.0 mm的微小方形区域测量
高精确度: 可检测1nm以下的超薄膜厚
高再现性: 膜厚: 0.1 nm,折射率: 0.001
简易操作: 不采用驱动部分,可减少校正麻烦
模块化应用: 头部可拆卸,可供应用于其他系统

测定方式: PCA
再现性: 膜厚0.1nm
光源: 半导体雷射636nm
量测点(方形): 1.0mm 入射角: 标准70度
台面大小: 4"
量测速度: 0.1点/秒
尺寸: 220*250*175mm
重量: 4Kg
配件: PC