產品資訊

光學式量測設備 高速量測雙折射偏光儀

面掃描式高速廣域量測雙折射偏光儀

該系列通過在三個波長下進行測量來擴展雙折射和相位差的測量範圍。 除了標準類型外,還有更大的類型,其測量範圍已擴大到A4和A3大小。
特點
•操作簡單/高速測量
•多種顯示模式和分析功能
•即時顯示延遲和軸
•大延遲的測量功能
•模製鏡片的質量評估
•進一步擴大了測量範圍

規格:
測量範圍:0〜3500nm
重複性:≦1.0nm
雙折射圖像分辨率:384×288
測量波長:523、543、575nm
尺寸:A5至A3(不同型號)
接口:GigE(攝像機信號)
電源:AC100〜240V( 50 / 60Hz)/〜6.0A
隨附附件:筆記本,標準鏡頭,操作手冊